поиск книг
книги
Поддержать
Войти
Войти
авторизованным пользователям доступны:
персональные рекомендации
Telegram бот
история скачиваний
отправить на Email или Kindle
управление подборками
сохранение в избранное
Личное
Запросы книг
Изучение
Z-Recommend
Подборки книг
Самые популярные
Категории
Участие
Поддержать
Загрузки
Litera Library
Пожертвовать бумажные книги
Добавить бумажные книги
Search paper books
Мой LITERA Point
Поиск ключевых слов
Main
Поиск ключевых слов
search
1
Scanning elektron-mikroskopi
Metallurgisk Institutt
Hjelen
,
Jarle
prøven
elektroner
tilbakespredte
sekundærelektroner
atomnummer
prøve
elektronene
funksjon
dersom
energi
element
øker
spredning
standard
akselerasjonsspenning
detektoren
midlere
brudd
elektronstrålen
fraksjon
prøveoverflaten
generert
oppløsning
strålen
skjematisk
strømmen
emitterte
legering
primærelektroner
akselerasjonsspenningen
oppløsningen
primærelektronene
tabell
treffer
zaf
kontrast
overflaten
prøver
røntgenstråling
arbeidsavstanden
avtar
bølgelengde
crt
dermed
diameter
diffraksjonskontrast
intensiteten
lik
signal
øke
Год:
1989
Язык:
norwegian
Файл:
PDF, 52.02 MB
Ваши теги:
0
/
5.0
norwegian, 1989
1
Перейдите по
этой ссылке
или найдите бота "@BotFather" в Telegram
2
Отправьте команду /newbot
3
Укажите имя для вашего бота
4
Укажите имя пользователя для бота
5
Скопируйте последнее сообщение от BotFather и вставьте его сюда
×
×